薄膜厚度测量装置

概述

红外线厚度计可以测量各种薄膜的膜厚。


T形模拉伸是最常用的胶片制造方法之一。
加热、熔化树脂颗粒,T型模具宽度方向的狭缝 (间隙)
从挤出薄膜,冷却并制膜。


使用红外厚度计测量宽度轮廓。
通过调整T型模具上螺栓的松紧度,
厚度可控制。

特性

  • 连续测量厚度,提高质量并降低材料成本
  • 通过连续测量厚度,可缩短膜厚调整时间
  • 测量波长范围:1.3~2.5μm
非接触・オンライン測定! 薄膜厚度测量装置

连接配置示例

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